電磁干擾（EMI）測試：

輻射騷擾測試（RE）：參考標(biāo)準(zhǔn)為 EN55032，主要測量智能鎖在運(yùn)行過程中向周圍空間輻射的電磁波強(qiáng)度，確保其不會(huì)對(duì)附近的無線通信設(shè)備等造成干擾。

傳導(dǎo)騷擾測試（CE）：標(biāo)準(zhǔn)同樣是 EN55032，用于檢測智能鎖通過電源線、信號(hào)線等傳導(dǎo)介質(zhì)向外部傳輸?shù)碾姶鸥蓴_信號(hào)，避免影響同線路其他電器設(shè)備的正常運(yùn)行。

諧波電流測試（Harmonic）：依據(jù) IEC 標(biāo)準(zhǔn)，測試智能鎖接入電網(wǎng)后產(chǎn)生的諧波電流，防止其對(duì)電網(wǎng)造成諧波污染，影響電網(wǎng)的穩(wěn)定性。

電壓變化與閃爍測試（Flicker）：按照 IEC 標(biāo)準(zhǔn)，評(píng)估智能鎖工作時(shí)引起的電網(wǎng)電壓變化和閃爍情況，確保不會(huì)對(duì)連接在同一電網(wǎng)的其他設(shè)備產(chǎn)生不良影響。

電磁抗擾度（EMS）測試：

靜電放電抗擾度測試（ESD）：參考 IEC 標(biāo)準(zhǔn)，模擬人體或物體對(duì)智能鎖放電的情況，檢測智能鎖在靜電干擾下能否正常工作，例如對(duì)指紋識(shí)別區(qū)域、密碼鍵盤等人體易接觸部位進(jìn)行 ±15kV 空氣放電，對(duì)電源接口、通信接口實(shí)施 ±8kV 接觸放電。

射頻電磁場輻射抗擾度測試（RS）：依據(jù) IEC 標(biāo)準(zhǔn)，將智能鎖置于特定強(qiáng)度的射頻電磁場中，考察其在電磁波輻射干擾下的工作性能，確保在如移動(dòng)基站等電磁環(huán)境中能正常運(yùn)行。

電快速瞬變脈沖群抗擾度測試（EFT）：按照 IEC 標(biāo)準(zhǔn)，模擬開關(guān)操作、電機(jī)啟動(dòng)等產(chǎn)生的高頻電磁脈沖對(duì)智能鎖的干擾，檢測其抗干擾能力，通常會(huì)施加 ±2kV 的 100kHz 高頻脈沖群。

浪涌抗擾度測試（SURGE）：參考 IEC 標(biāo)準(zhǔn)，模擬雷擊等外部電源造成的瞬態(tài)過電壓，測試智能鎖的耐受力和保護(hù)措施的適用性，一般線 - 線間施加 1kV 浪涌，線 - 地間施加 2kV 浪涌。

射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度測試（CS）：依據(jù) IEC 標(biāo)準(zhǔn)，檢測智能鎖對(duì)通過電源線、信號(hào)線等傳導(dǎo)進(jìn)來的射頻干擾的抵抗能力，確保其在有射頻干擾的環(huán)境中不會(huì)因傳導(dǎo)干擾而出現(xiàn)故障。

電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化抗擾度測試（DIP）：參考 IEC 標(biāo)準(zhǔn)，模擬電網(wǎng)電壓暫降、短時(shí)中斷等異常情況，考察智能鎖在這些情況下的工作穩(wěn)定性和恢復(fù)能力。